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断层扫描测量仪的数据特征解读
点击次数:366 发布时间:2022-03-03 打印本页面 返回
   WERTH X射线工业CT断层扫描测量仪的断层扫描分析如同在工件内部测量,所有采集的数据可用于质量保证的范围和进行评估。断层扫描仪无损检测技术例如装配检查、损伤和气孔分析、材料检验或损坏检查,如同测量评估、备用工程应用或几何比较一样。
  X射线工业CT断层扫描测量仪将X射线断层扫描成像技术整合到三坐标测量系统,实现复杂部件高精度内外尺寸全面测量,可选配第二个Z轴,配置其他传感器(光学、探针、光纤、激光等)。Werth公司的复合式传感器技术,进一步保证CT测量数据更准确。
  断层扫描测量仪选用广泛应用的WinWerth软件,界面友好,操作简单。可使用拟合Bestfit及公差拟合Tolerancefit软件进行轮廓匹配分析及三维CAD工件公差比对。广泛应用于复杂尺寸测量、*评估、逆向工程、质量控制等。
  断层扫描测量仪的数据特征:
  高精密机械轴承技术及线性导轨系统,确保实现高精度的测量。
  无论从设计还是结构,测量机*并超出X射线使用安全标准。
  基于Werth公司优异的图形处理及3D重构技术,测量速度更快。
  Werth公司技术的X射线传感器独立校准系统。
  栅格断层扫描技术:
  精密测量微小部件;
  扫描更大尺寸工件,提高分辨率;
  扩展测量范围。
  测量软件可快速3D重构,也可进行2D测量。
  测量工件内部尺寸的同时,也可实现材质缺陷分析。
手机:
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