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TESA测高仪有非常广泛的选择范围
点击次数:1670 更新时间:2016-05-26 打印本页面 返回
   TESA测高仪有非常广泛的选择范围,用户可以根据自己的技术要求和经济能力选择适合于自己的一款!TESA测高仪适合于生产线的测量测高仪是放置于平台上进行一维测量的精密仪器,理想的情况是在花岗石平台上(00级优先考虑)进行可以更好的确保测量精度。测高仪对于一些尺寸要求严格的工件在生产过程中的调试和抽样检测非常有用。
  TESA测高仪孔径的自动测量使得测量孔更为简单更为可靠,配备气垫,使得移动更为容易,数据采集时通过编程会发出声音信号两种模块共有的特色,用恒定的力触测工件 ,微处理器会在一秒钟之内对采集数据进行计算,无需手工计算,玻璃光栅的稳定性保证了机器的长期高精度,测量功能符号化,数字显示大。TESA测高仪一般采用两种方式来测量距离:脉冲法和相位法。脉冲法测距的过程是这样的:测距仪发射出的激光经被测量物体的反射后又被测距仪接收,测距仪 同时记录激光往返的时间。光速和往返时间的乘积的一半,就是测距仪和被测量物体之间的距离。脉冲法测量距离的精度是一般是在+/- 1米左右。另外,此类测距仪的测量盲区一般是5米左右。
  TESA测高仪—尽可能的满足各种测量任务TESA每一款测高仪功能都超出了传统意义上的测高仪,通过一维的功能可以检测:
  ● 内尺寸
  ● 外尺
  ● 高度
  ● 深度台阶
  ● 和其他距离尺寸
  TESA测高仪的型号可将测量程序存储在控制面板中,并可以自动计算各个元素之间的关系。该程序还有一个重要功能就是对两个方向的坐标检测值进行处理并建立孔的位置。当工件旋转 90°或任何一个已知角度时可以连续地记录两个方向的坐标。TESA测高仪垂直方向的导轨允许完成。
 
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