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TESA测高仪源于的TESA技术
点击次数:837 发布时间:2015-11-27 返回
   TESA测高仪是专门为车间环境设计,源于的TESA技术,其设计即使在很恶劣的环境下都不会受影响。独特的功能使其车间必配的测量仪,同时具有杰出的性价比,简练可靠的现代化设计在接近车间的区域内使用时可以提供zui高的保护。是一种平台与测高仪结合在一起的全功能测量系统,功能全面的测高仪主要用于在线或批量检测,一台或一群机床上直接进行测量,特别是对于一些尺寸要求严格的工件在生产过程中的调试和抽样检测非常有用。每一台都配有充电电池,具有测量高度、步距尺寸、直径、孔和槽的中心距、螺帽的宽度等其他功能。TESA测高仪的测量范围更大,而且动态测头提供了恒定的测量力,采用TESA的技术自动寻找顶点简单的测量孔和突轴,具有测量平行度误差的功能。
  TESA测高仪误差是指仪器本身所具有的内在误差。它是影响测量结果准确度的一个重要因素。对于瑞士TESA测高仪使用者来说,了解仪器误差的各种表现形式,掌握测量仪器误差分析方法,对正确选择和使用测量仪器,减小和消除仪器误差对测量结果的影响,提高测量精度,正确评定测量结果的准确度都具有重要的意义。
  TESA测高仪误差具体反映在测量仪器示值与真值之差。主要分为原理误差和制造误差。
  1、原理误差。由于测量仪器设计时经常采用近似机构代替理论上所要求的运动机构,用均匀刻度的刻度尺近似代替理论上要求非均匀刻度的刻度尺,或仪器设计时违背阿贝原则等造成的误差称之为原理误差。
  2、TESA测高仪使用中产生的误差——运行误差。测量仪器在使用过程中还可能产生误差,如使用中的磨损将影响示值的稳定性。如仪器测量杆磨损后会使测量不准确,量块磨损将使量块降级至报废,仪器使用中内应力的释放和测量力等外力作用引起的变形误差,温度变化引起的误差将使光学系统、基准器及结构尺寸变化而产生仪器误差等。
  3、TESA测高仪制造和装配调整误差。测高仪零件的制造误差和装配调整误差将引起仪器误差。
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