Werth FlatScope平面零件光学扫描仪适于工厂高速栅格二维扫描测量平面类零件,如线路板、手机外壳、模板等。封闭式结构,平面光源位于顶部机盖,CCD变焦系统位于机器底部,快速聚焦于大玻璃工作台表面,可同时测量位于工作台表面各种不同类型零件。
主要特点:
◆ 高速的矩阵式扫描系统,适用于生产现场的二维测量
◆ 工业图像处理系统,扫描规则的几何元素及自由轮廓
◆ 被测工件可任意位置放置
◆ 模块化的测量软件
◆ 利用投射光和透射光进行工件扫描
◆ 快捷方便的WinWerth评估软件
◆ WinWerth软件CAD在线和*公差拟合测量
◆ 平面光源
◆ 精度采用高标准双边标定
技术参数:
测量范围(玻璃工作台 尺寸):
X = 400/650mm
Y = 200/400/600mm
zui大工件高度:Z = 100mm
光栅尺分辨率:0.1µm
测量机zui大允许误差:
变焦:
1)E1: (2.5+L/120) µm
E2: (2.9+L/100) µm
固定镜头 0.4x:
2)E1: (4.9+L/100) µm
E2: (4.9+L/75) µm
固定镜头 0.2x:
2)E1: (9+L/100) µm
E2: (9+L/75) µm
1)20℃±2o Δ=1o/h 5X镜头 2)20℃±2度 Δ=1度/h
依据标准 ISO 10360 和 VDI/VDE 2617