Werth*家将X射线扫描成像技术整合到三坐标测量系统，WERTH X射线工业CT断层扫描测量仪可实现产品无损可视化准确测量，并可选配光学、光纤、探针、激光扫描等多种传感器。对工件内外部所有结构尺寸全面的高精密测量，同时可实现工件材质的缺陷分析。